Pat
J-GLOBAL ID:200903043602549700

放射線検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山下 穣平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002242145
Publication number (International publication number):2004077444
Application date: Aug. 22, 2002
Publication date: Mar. 11, 2004
Summary:
【課題】蛍光体層の蒸着によって生じる特性分布を相殺し、シンチレータの面内で感度や鮮鋭度のばらつきの少ない安価な放射線検出装置を提供する。【解決手段】シンチレータ10の光反射層8の反射率を、中心部で小さく、中心部から周辺に向かって反射率が大きくなるようにシンチレータの面内で分布を形成する。また、光反射層8の膜厚をシンチレータ面内で分布を持たせる、或いは光反射層8の表面荒さをシンチレータ面内で分布を持たせることにより光反射層8に反射率分布を形成する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
少なくとも、蛍光の反射層及び放射線を光に変換する蛍光体層から成るシンチレータと、前記シンチレータからの光を電気信号に変換する複数の光電変換素子から成る光検出器層を積層してなる放射線検出装置において、前記蛍光反射層の反射率が、中心部で小さく、中心部から周辺に向かって反射率が大きくなるようにシンチレータの面内で分布を有することを特徴とする放射線検出装置。
IPC (3):
G01T1/20 ,  H01L27/14 ,  H01L31/09
FI (6):
G01T1/20 D ,  G01T1/20 E ,  G01T1/20 G ,  H01L27/14 K ,  H01L27/14 D ,  H01L31/00 A
F-Term (24):
2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088GG16 ,  2G088GG19 ,  2G088GG20 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ37 ,  2G088LL12 ,  2G088LL15 ,  4M118AB01 ,  4M118CA31 ,  4M118CA34 ,  4M118CB11 ,  5F088AA01 ,  5F088AB05 ,  5F088BA20 ,  5F088BB07 ,  5F088EA04 ,  5F088EA08 ,  5F088GA02 ,  5F088HA09 ,  5F088HA15 ,  5F088LA08

Return to Previous Page