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J-GLOBAL ID：200903043613869650

SIR測定装置および測定方法

Inventor： 寺澤 禎洋
Applicant, Patent owner： 株式会社デンソー
Agent (1)： 碓氷 裕彦 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001090998
Publication number (International publication number)：2002290344
Application date： Mar. 27, 2001
Publication date： Oct. 04, 2002
Summary：

【要約】【課題】 SIRを精度良く測定できるようにする。【解決手段】 希望波電力と雑音電力の比であるS/N比または希望波電力と干渉波電力の比であるS/I比を測定するSIR測定方法において、受信信号を直交復調器115により直交復調した後のI成分(同相成分)あるいはQ成分(直交成分)の信号電圧振幅をヒストグラム集計器410を用いて、ある一定間隔で測定してその分布のヒストグラムを作成し、そのデータをガウス分布推定器420を用いて標本平均と標本分散を推定して、SIR演算部430で、希望波電力Sと雑音電力Nあるいは干渉波電力IよりS/N比あるいはS/I比を演算して出力する。

Claim (excerpt)：

希望波電力と雑音電力の比であるS/N比または希望電力と干渉波電力の比であるS/I比を測定する測定装置において、I成分(同相成分)とQ成分(直交成分)を含む受信信号を、前記I成分(同相成分)とQ成分(直交成分)に分離する直交復調手段と、前記直交復調した信号を逆拡散した後のI信号あるいはQ信号のいずれかの信号を一定間隔で一定区間サンプリングして、その信号振幅の分布を記憶する信号振幅分布記憶手段と、前記信号振幅分布記憶手段によって得られた信号振幅分布から第一の推定値である標本平均と第二の推定値である標本分散を演算する分布推定手段と、前記第一の推定値である標本平均を二乗して希望波電力とし、前記第二の推定値である標本分散を二乗して雑音電力あるいは干渉波電力とし、前記希望波電力と前記雑音電力あるいは干渉波電力により、S/N比あるいはS/I比を演算して出力する手段を有することを特徴とするSIR測定装置。

IPC (4)：

H04B 17/00 ,  H04B 7/26 ,  H04J 11/00 ,  H04B 1/707

FI (5)：

H04B 17/00 M ,  H04B 17/00 D ,  H04J 11/00 Z ,  H04B 7/26 K ,  H04J 13/00 D

F-Term (17)：

5K022DD01 ,  5K022DD31 ,  5K022EE01 ,  5K022EE31 ,  5K042AA06 ,  5K042CA02 ,  5K042CA23 ,  5K042DA16 ,  5K042GA12 ,  5K067AA33 ,  5K067BB02 ,  5K067CC04 ,  5K067CC10 ,  5K067EE02 ,  5K067EE10 ,  5K067HH21 ,  5K067LL11