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J-GLOBAL ID：200903043646454677
プローブ装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高橋 勇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996120336
Publication number (International publication number)：1997304457
Application date： May. 15, 1996
Publication date： Nov. 28, 1997
Summary：
【要約】【課題】 被測定面が狭いところにあっても容易に二次元乃至三次元の電磁界分布を測定できるプローブ装置を提供すること。【解決手段】 被測定面から放射される電磁界を検出する電磁界検出手段8をプローブ本体1に備えている。また、プローブ本体1に、被測定面に当接して回転する回転体10と、この回転体10の回転量に基づいてプローブ本体1の被測定面に対する移動量を検出する移動量検出手段9とを備えたこと。
Claim (excerpt)：
被測定面から放射される電磁界を検出する電磁界検出手段をプローブ本体に備えたプローブ装置において、前記プローブ本体に、前記被測定面に当接して回転する回転体と、この回転体の回転量に基づいて前記プローブ本体の前記被測定面に対する移動量を検出する移動量検出手段とを備えたことを特徴としたプローブ装置。
FI (2)：
G01R 29/08 F
, G01R 29/08 D
