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J-GLOBAL ID:200903043685477641
水流計測システム及び水流計測方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
松浦 弘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008157439
Publication number (International publication number):2009300346
Application date: Jun. 17, 2008
Publication date: Dec. 24, 2009
Summary:
【課題】堤防の法面を這い上がる水流の最高到達位置を算出し、以て、越流の発生予測に利用することが可能な水流計測システム及び水流計測方法の提供を目的とする。【解決手段】本発明の水流計測システム100は、堤防200の法面201に固定した電磁流速センサ40によって法面201を這い上がる水流の流速V1を計測し、その流速V1のデータから、水流の最高到達位置P1を算出するので、越流の発生予測を行うことが可能となる。また、電磁流速センサ40の主要部である検知電極43,43、励磁コイル44及び測定回路部45等の電気部品を備えた本体ハウジング41が金属製のマウント形ハウジング50によって覆われているので、電磁流速センサ40の耐久性が向上する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
堤防の法面に固定され、その法面を這い上がる水流の流速を計測する流速センサと、
前記流速センサにより計測された流速に基づいて、前記法面を這い上がった水流の最高到達位置を算出する演算装置とを備えたことを特徴とする水流計測システム。
IPC (5):
G01C 13/00
, G01P 5/08
, G01F 1/58
, G01F 23/24
, E02B 1/00
FI (5):
G01C13/00 Z
, G01P5/08 C
, G01F1/58 S
, G01F23/24 A
, E02B1/00
F-Term (4):
2F014DA10
, 2F014GA01
, 2F035BD02
, 2F035BD04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
越波測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-006957
Applicant:独立行政法人港湾空港技術研究所, 協和商工株式会社
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