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J-GLOBAL ID：200903043703317827

葉の成分量測定方法及び装置

Inventor： 佐竹 覺 ,  保坂 幸男 ,  香川 清登
Applicant, Patent owner： 株式会社佐竹製作所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994165871
Publication number (International publication number)：1996015141
Application date： Jun. 24, 1994
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：

【要約】【目的】 植物の生育に深く関連する窒素量を簡便に直接測定可能とし、しかもその測定精度を向上させた信頼性の高い測定方法とその装置を得る。【構成】 植物の葉の成分に関連する任意波長の近赤外光を発光手段3によって被測定葉2に照射し該被測定葉2の透過光と反射光とを反射受光手段10と透過受光手段12とによって受光して透過光量と反射光量とを求め、該透過光量と反射光量とから当該波長による被測定葉の吸光度を求めるとともに、あらかじめ成分量が既知の葉に前記任意波長の近赤外光を照射したときの吸光度と前記成分量が既知の葉の成分量との重回帰分析によって葉の成分量推定式を定め、該葉の成分量推定式と前記被測定葉の吸光度とから被測定葉の成分量を求めるようにした。

Claim (excerpt)：

植物の葉の成分に関連する任意波長の近赤外光を被測定葉に照射し該被測定葉の透過光と反射光とを受光して透過光量と反射光量とを求め、該透過光量と反射光量とから当該波長による被測定葉の吸光度を求めるとともに、あらかじめ成分量が既知の葉に前記任意波長の近赤外光を照射したときの吸光度と前記成分量が既知の葉の成分量との重回帰分析によって葉の成分量推定式を定め、該葉の成分量推定式と前記被測定葉の吸光度とから被測定葉の成分量を求めるようにしたことを特徴とする葉の成分量測定方法。

IPC (2)：

G01N 21/35 ,  G01N 21/49

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭62-042036
  
• 特開平2-176448
  
• 特開昭63-198850