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J-GLOBAL ID：200903043794332114
蛍光X線分析用の試料ホルダ
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
杉本 修司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997150726
Publication number (International publication number)：1998339709
Application date： Jun. 09, 1997
Publication date： Dec. 22, 1998
Summary：
【要約】【目的】 散乱X線の発生を効果的に防止して、分析精度を高めることができる蛍光X線分析用の試料ホルダを提供する。【構成】 周壁24の内側に中空部21を有するフレーム2と、周壁24に架け渡されて互いに交差しその交差点31で試料10を支持する支持線材3とを備えている。
Claim (excerpt)：
試料に1次X線を照射して試料から発生する蛍光X線に基づいて試料の分析を行う蛍光X線分析に使用される試料ホルダであって、周壁の内側に中空部を有するフレームと、前記周壁に架け渡されて前記中空部またはその軸方向の外側部分で互いに交差し、その交差点で前記試料を支持する支持線材とを備えた試料ホルダ。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 23/223
, G01N 1/28 W
