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J-GLOBAL ID：200903043895319615

光磁気デイスクの記録状態確認方法

Inventor： 長良 徹
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 杉浦 正知
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991276524
Publication number (International publication number)：1993089554
Application date： Sep. 27, 1991
Publication date： Apr. 09, 1993
Summary：

【要約】【目的】記録時にベリファイが同時に行なえるようにして、記録時間の短縮を図る。【構成】光磁気ディスクとして、記録層と再生層とが積層され、記録層のキュリー温度付近での保磁力に対して再生層のキュリー温度付近での保磁力が大きくなるようなものを用いる。このような光磁気ディスクでは、キュリー温度付近でも、再生層からカー回転角が検出できる。このため、記録時に再生層の戻り光を用いて記録データが再生できる。したがって、記録時にベリファイを同時に行え、記録時間の短縮が図れる。

Claim (excerpt)：

記録層と再生層とが積層されて成り、上記記録層のキュリー温度付近での保磁力に対して上記再生層のキュリー温度付近での保磁力が大きくなるように形成された光磁気ディスクを用い、記録時の再生層からの再生出力と記録すべき情報信号とを比較して、上記光磁気ディスクに正しいデータが記録されているかどうかを確認するようにした光磁気ディスクの記録状態確認方法。

IPC (2)：

G11B 11/10 ,  G11B 20/18

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 光磁気記録方式
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-175159   Applicant：キヤノン株式会社