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J-GLOBAL ID：200903043954644770

磁気デイスクのサーボ信号設定方式

Inventor： 軒名 公哉
Applicant, Patent owner： 日立電子エンジニアリング株式会社
Agent (1)： 梶山 佶是 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991311627
Publication number (International publication number)：1993128766
Application date： Oct. 30, 1991
Publication date： May. 25, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 ヘッド・ディスク・アッセンブリHDAの磁気ディスクに対して、サーボライターでHDAに設けられた内、外周ストッパ間にサーボ信号を設定する。【構成】 バイアス電流でHDAの内部キャリッジ機構を駆動し、回動片41を内周又は外周ストッパ42a ,42b の一方に接触させ、ヘッド31でテスト信号の書込み、サーボライターの外部キャリッジ機構5を動作して駆動アーム52の誘導ピン53でヘッドをシーク移動してテスト信号を読出し、その電圧が正常値よりやや低下した位置における駆動アームの駆動位置をレーザ測長器54により測定し、測定値を一方のストッパの位置データとしてメモリ62に記憶する。内部キャリッジ機構の移動中に駆動アームの駆動位置をレーザ測長器で測定し、一定値に安定した測定値を他方のストッパの位置データとしてメモリに記憶する。メモリに記憶された両位置データを参照して、内、外周ストッパ42a ,42b の間にサーボ信号を設定する。

Claim (excerpt)：

磁気ディスクと、先端に磁気ヘッドが取り付けられたヘッドアームと、該磁気ヘッドをシーク移動する内部キャリッジ機構、および該内部キャリッジ機構の移動範囲を制限する内周ストッパと外周ストッパを有するヘッド・ディスク・アッセンブリに対して、該ヘッドアームを駆動する駆動アームを有する外部キャリッジ機構と、該駆動アームの位置を測定するレーザ測長器を有するサーボライターによるサーボ信号の設定において、バイアス電流により前記内部キャリッジ機構を駆動し、前記内周ストッパまたは外周ストッパの一方のストッパに接触させて前記磁気ヘッドによりテスト信号の書込みを行い、前記外部キャリッジ機構の動作により前記磁気ヘッドをシーク移動して該テスト信号の読出しを行い、読出し電圧が正常値よりやや低下した位置における前記駆動アームの位置を前記レーザ測長器により測定し、該測定値を前記一方のストッパの位置データとしてメモリに記憶し、ついで、前記外部キャリッジ機構に一定電流を供給し、前記内部キャリッジ機構を移動して他方のストッパに接触させ、該移動中に駆動アームの位置をレーザ測長器により測定し、一定値に安定した該測定値を他方のストッパの位置データとして前記メモリに記憶し、前記メモリに記憶された両位置データを参照して、前記内周ストッパと外周ストッパの間に前記サーボ信号を設定することを特徴とする、磁気ディスクのサーボ信号設定方式。