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J-GLOBAL ID：200903044055559573
偏光計および偏光測定方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
武田 正彦 (外3名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1999540075
Publication number (International publication number)：2001520754
Application date： Feb. 01, 1999
Publication date： Oct. 30, 2001
Summary：
【要約】本発明は、偏光計(31)および光線の偏光状態を測定する方法に関する。この偏光計は、ストークスベクトル(S)を有する入射光線(21)を反射光線(22)と透過光線(23)とに分離するプリズム(32)を備えることを特徴とし、同プリズムには干渉現象がなく、透過光線はこのプリズム内で少なくとも1回は反射を受ける。この偏光計はまた、個々に反射光線と透過光線のそれぞれを少なくとも2本の最終光線(25-28)に分離する2つの最終段セパレータ(3、4)と、最終光線の強度レベルを測定する検出手段(5-8)と、被測定光のストークスベクトルを求める処理装置(9)とを備えることも特徴とする。好適には、プリズム(32)内での反射は、全反射であるか、または厚膜の吸収層での反射であるかの何れかである。
Claim (excerpt)：
ストークスベクトル(S)を有する被測定光の入射光線(21)を反射光線(22)と透過光線(23)とに分離するように設計された第1'セパレータであるが、前記セパレータが反射係数(R)と前記反射光線の2つの楕円偏光角(Ψr,Δr)と透過係数(T)と前記透過光線の2つの楕円偏光角(Ψt,Δt)とを有する第1セパレータと、 個々に、各反射光線(22)および透過光線(23)を少なくとも2つの最終光線(25-28)に分離するように設計された2つの最終段セパレータ(3、4)と、 前記最終光線の強度(i1-i4)を測定するように設計された検出手段(5-8)と、 前記検出手段に連結されており、被測定光のストークスベクトル(S)を求める処理装置(9)とを備えることを特徴としており、 前記第1セパレータが、如何なる干渉現象も引き起こさず、かつ、特に前記透過光線(23)がプリズム(2、32)内で内面反射角(φ3)で少なくとも1回は反射を受けるような屈折率(np)および形状等の特性を有する前記プリズム(2、32)を備えることを特徴とすることにより特徴付けられる偏光計(1、31)。
IPC (3)：
G01J 4/00
, G01N 21/21
, G01V 8/12
G01J 4/00
, G01N 21/21 Z
, G01V 9/04 A
