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J-GLOBAL ID：200903044110357012

特に仕上げ面の品質制御装置及びその方法

Inventor： ペーター・シュヴァルツ
Applicant, Patent owner： ビック-ガルトナー・ゲーエムベーハー
Agent (1)： 志賀 正武 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000318505
Publication number (International publication number)：2001174335
Application date： Oct. 18, 2000
Publication date： Jun. 29, 2001
Summary：

【要約】【課題】 仕上げ面の品質制御が可能な装置及びその方法を提供することである。【解決手段】 光源(3a、3b)を有する少なくとも一つの照明手段(2)と、複数の測定手段(10,10a,10b,10c)と、測定シーケンスの制御及び測定結果の評価のための少なくとも一つの制御評価手段(60)と、出力手段(65)とを備え、光源の光は測定面に対して所定の角度(18)を向いており、測定手段は各々異なる所定の角度(17)で測定面を向き、かつ、測定面(8)から反射する光の一部を受け、かつ、測定手段(10)は各々該測定手段で受光される光に特有な電気測定信号を発する少なくとも一つの光センサ(13)を有し、制御評価手段は少なくとも一つのプロセッサ手段(60)と少なくとも一つのメモリ手段(61)とを備え、評価手段(60)は測定信号を評価し、かつそれから面を特徴付ける少なくとも一つのパラメータを導くことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

特に仕上げ面の品質制御装置であって、少なくとも一つの光源(3a、3b)を有する少なくとも一つの照明手段(2)と;少なくとも3つ、好ましくは少なくとも5つの複数の測定手段(10,10a,10b,10c)と;測定シーケンスの制御及び測定結果の評価のために備えた少なくとも一つの制御評価手段(60)と;出力手段(65)と;を備え、前記光源の光は測定される面の一部である測定面に対して所定の角度(18)を向いており、前記測定手段は各々異なる所定の角度(17)で前記測定面を向き、かつ、前記測定面(8)から反射する光の一部を受け、かつ、前記測定手段(10)は各々該測定手段で受光される光に特有な電気測定信号を発する少なくとも一つの光センサ(13)を有し、前記制御評価手段は少なくとも一つのプロセッサ手段(60)と少なくとも一つのメモリ手段(61)とを備え、前記評価手段(60)は前記測定信号を評価し、かつそれから前記面を特徴付ける少なくとも一つのパラメータを導く、面の品質制御装置。

IPC (3)：

G01J 3/51 ,  G01N 21/57 ,  G01N 21/84

FI (3)：

G01J 3/51 ,  G01N 21/57 ,  G01N 21/84 Z