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J-GLOBAL ID:200903044128738153

官能性電極上の選択的結合事象を電気的に読み取ることにより分子及びナノ材料を分析する方法及びCMOS型デバイス

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 龍華 明裕
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2008540012
Publication number (International publication number):2009509175
Application date: Aug. 03, 2006
Publication date: Mar. 05, 2009
Summary:
【課題】官能性電極上の選択的結合事象を電気的に読み取ることにより分子及びナノ材料を分析する方法及びCMOS型デバイスを提供する。【解決手段】プローブ分子を含む官能性電極を備え、ブローブ分子とターゲット分子との分子結合事象を官能性電極の分極変化により電気的に検出することができるデバイスを開示する。デバイスには、プローブ分子を含まない非官能性電極を備えてもよく、デバイスはプローブ分子とターゲット分子との分子結合事象を官能性電極と非官能性電極との間の分極変化により電気的に検出することができるようになる。【選択図】図1
Claim (excerpt):
一のプローブ分子を含む一の官能性電極を備えたデバイスであって、該プローブ分子と一のターゲット分子との一の分子結合事象を該官能性電極の一の分極変化により電気的に検出することができるデバイス。
IPC (7):
G01N 27/00 ,  G01N 27/327 ,  H01L 21/768 ,  H01L 29/06 ,  C12M 1/00 ,  C12N 15/09 ,  C12Q 1/68
FI (8):
G01N27/00 Z ,  G01N27/00 J ,  G01N27/30 351 ,  H01L21/90 A ,  H01L29/06 601N ,  C12M1/00 A ,  C12N15/00 F ,  C12Q1/68 A
F-Term (57):
2G060AA07 ,  2G060AA15 ,  2G060AD06 ,  2G060AF01 ,  2G060AG06 ,  2G060AG08 ,  2G060AG10 ,  2G060AG11 ,  4B024AA11 ,  4B024AA19 ,  4B024BA61 ,  4B024BA80 ,  4B024CA01 ,  4B024CA09 ,  4B024CA11 ,  4B024HA12 ,  4B024HA15 ,  4B029AA07 ,  4B029BB17 ,  4B029BB20 ,  4B029CC03 ,  4B029FA15 ,  4B029GB06 ,  4B029HA09 ,  4B063QA01 ,  4B063QA12 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ52 ,  4B063QQ79 ,  4B063QR32 ,  4B063QR35 ,  4B063QR55 ,  4B063QR82 ,  4B063QS36 ,  4B063QS39 ,  4B063QX05 ,  5F033HH00 ,  5F033HH07 ,  5F033HH11 ,  5F033HH13 ,  5F033JJ07 ,  5F033JJ11 ,  5F033JJ13 ,  5F033JJ19 ,  5F033KK07 ,  5F033KK11 ,  5F033KK13 ,  5F033LL02 ,  5F033MM02 ,  5F033QQ08 ,  5F033QQ09 ,  5F033QQ25 ,  5F033QQ37 ,  5F033QQ48 ,  5F033RR01 ,  5F033RR04 ,  5F033XX37
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent:
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