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J-GLOBAL ID：200903044149176031

試料観察用プレートおよび観察装置

Inventor： 村松 宏 ,  本間 克則 ,  江川 明
Applicant, Patent owner： セイコーインスツルメンツ株式会社
Agent (1)： 林 敬之助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999295842
Publication number (International publication number)：2000314696
Application date： Oct. 18, 1999
Publication date： Nov. 14, 2000
Summary：

【要約】【課題】 表面が原子レベルで平滑で、安価な試料観察プレートを提供することで、分子レベルの形状観察と光学観察を可能にする。【解決手段】 分子レベルの形状及び光学情報の観察を行う機器で使用する試料観察用プレートにおいて、ガラス板11に結晶状薄膜13を接着することによって、試料観察用プレート20を構成した。さらに、この試料観察用プレート20を用いて観察装置を構成した。

Claim (excerpt)：

分子レベルの形状及び光学情報の観察を行う機器で使用する試料観察用プレートにおいて、透明基板に結晶状薄膜が接着されることによって構成されていることを特徴とする試料観察用プレート。