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J-GLOBAL ID：200903044184808334
粒度分布測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
福村 直樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991264012
Publication number (International publication number)：1993099833
Application date： Oct. 11, 1991
Publication date： Apr. 23, 1993
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】 従来より更に小さな粒子の粒度分布を測定することができると共に、幅広い粒度分布を有する粒子群も測定することのできる小型の粒度分布測定装置を提供する。【構成】 短波長の偏光レーザー光束を、粒子に照射するレーザー光照射手段と、前記レーザー光束の光軸上であって粒子の存在領域の前方に配置された第1集光レンズと前記レーザー光束の光軸上であって第1集光レンズによって集光された前方散乱光を受光する第1光検出器6とを備える第1散乱光測定系と、第1集光レンズによって集光することのできない散乱角の前方散乱光を集光する第2集光レンズとこれによって集光される前方散乱光を受光すると共に第1光検出器6の測定レインジを越える部分をカバーする測定レインジを備える第2光検出器11とを備える第2散乱光測定とを有し、広い散乱角で散乱する前方散乱光の内所望する散乱角の前方散乱光を漏れなく忠実に検出するようにした。
Claim (excerpt)：
短波長の偏光レーザー光束を、粒子に照射するレーザー光照射手段と、前記偏光レーザーの照射を受けた粒子により散乱した前方散乱光の強度を測定する散乱光測定系とを備え、この散乱光測定系が、隣接する一方の集光レンズでは集光不可能な前方散乱光を他方の集光レンズが集光するように互いに隣接して配置された複数の集光レンズと、各集光レンズにより集光された前方散乱光を受光すると共に、散乱光の測定レインジが互いに相補的になるように配置された複数の受光素子とを有することを特徴とする粒度分布測定装置。
Patent cited by the Patent：
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