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J-GLOBAL ID：200903044292491819

穀粒の等級判別装置

Inventor： 加藤 隆司 ,  重見 和男
Applicant, Patent owner： 株式会社四国製作所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991329464
Publication number (International publication number)：1993142154
Application date： Nov. 18, 1991
Publication date： Jun. 08, 1993
Summary：

【要約】【目的】 穀粒に光を照射して透過光量を測定することで穀粒の品質を判別し、等級を表示する。【構成】 1つの穀粒に対して穀粒を横切って所定間隔毎に透過光量を測定する。透過光量測定時間(t)、透過光量急激増加回数(TN)、最大透過光量値(MP)、透過光量急激増加発生位置割合(PR)、透過光量平均値(MKM)を各別に演算評価して、各評価値を集計した総合評価値(TV)に基づいて等級を判別する。

Claim (excerpt)：

穀粒の移動径路を挟んで発光体(1)と受光量検出センサ(2)を設け、所定時間毎に検出する穀粒の透過光量データを演算装置(3)に入力し、各穀粒の透過光量測定時間(t)、穀粒の透過光量測定中の光量急激増加回数(TN)、急激増加時の最大透過光量値(MP)、最大透過光量値の発生位置割合(PR)、透過光量平均値(MKM)を各別に演算評価し、各評価値を集計した総合評価値(TV)に基づいて等級を判別する穀粒の等級判別装置。

IPC (3)：

G01N 21/85 ,  G01N 21/59 ,  G01N 33/10