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J-GLOBAL ID:200903044374645261

半導体レーザ素子用反射膜及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 梶原 康稔
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997365765
Publication number (International publication number):1999186656
Application date: Dec. 22, 1997
Publication date: Jul. 09, 1999
Summary:
【要約】【課題】 信頼性の高い安定した特性が得られるとともに、複数波長のレーザ光を発振するレーザ装置に簡便に形成する。【解決手段】 GaAsレーザ素子基板の共振器端面上に第1層目としてAl2O3膜を、成膜温度130°Cでスパッタ法によって成膜し、膜厚を光学膜厚でλ/16に制御する。次に、第2層目のα-Si:H膜を、成膜温度200°Cでスパッタ成膜する。第2層膜の光学膜厚は、λ/8に制御する。次に、第3層目のAl2O3膜を、成膜温度130°Cでスパッタ成膜する。第3層膜の光学膜厚は、λ/16に制御する。次に、第4層目のα-Si:H膜を、成膜温度200°Cでスパッタ成膜する。第4層膜18の光学膜厚は、λ/8に制御する。次に、第5層目のAl2O3膜を、成膜温度130°Cでスパッタ成膜する。第5層膜の光学膜厚は、λ/16に制御する。
Claim (excerpt):
半導体レーザ素子の共振器端面に形成される積層構造の反射膜において、第1の温度で形成される第1の光学膜厚の第1の膜と、第2の温度で形成される第2の光学膜厚の第2の膜を、交互に積層したことを特徴とする半導体レーザ素子用反射膜。

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