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J-GLOBAL ID：200903044408673464

画像形成装置

Inventor：
森 浩隆

About 森 浩隆

, 
安藤 良

About 安藤 良


Applicant, Patent owner：
富士ゼロックス株式会社

About 富士ゼロックス株式会社


Agent (1)： 川▲崎▼ 研二 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995089892
Publication number (International publication number)：1996286460
Application date： Apr. 14, 1995
Publication date： Nov. 01, 1996
Summary：
【要約】【目的】 レジずれのAC成分を検出し、このAC成分を原因とするレジずれの異常を判別することができる画像形成装置を提供する。【構成】 転写ベルト12と、与えられた画像信号に応じてベルト12上に各色毎の画像を形成する画像形成装置11K,11Y,11M,11Cと、ベルト12上に各色のテストパターンを繰り返し形成するための画像信号を生成する画像処理装置10と、ベルト12上のテストパターンを検出するCCDセンサ15と、検出した各テストパターンの相対的な位置ずれ量から各色間におけるレジずれのAC成分を求めるレジずれ検出補正部17とを設け、これによってレジずれのAC成分による異常を判別するようにした。
Claim (excerpt)：
所定速度で周回駆動される環状の転写ベルトと、前記転写ベルトの走行方向に沿って配設され、与えられた画像信号に応じて該ベルト上に各色毎の画像を形成する複数の画像形成手段と、前記転写ベルト上に各色のテストパターンを該ベルトの走行方向に沿って所定間隔で繰り返し形成するための画像信号を各画像形成手段に与えるテストパターン生成手段と、前記転写ベルト上に形成された各色のテストパターンを検出する画像検出手段と、前記検出された各テストパターンについて、所定の基準位置との相対的な変位を算出する相対位置算出手段と、前記算出された各テストパターンの相対的な変位の平均値を各色毎に算出する平均値算出手段と、前記各テストパターンの相対的な変位から各々のテストパターンの色に対応する前記平均値を減算し、各テストパターンの位置変動値を求める変動値算出手段と、前記各テストパターンの位置変動値に基づき、レジずれの異常を検出する異常検出手段とを具備することを特徴とする画像形成装置。
IPC (4)：
G03G 15/01 ,  B41J 2/525 ,  H04N 1/40 ,  H04N 1/48
FI (4)：
G03G 15/01 Y ,  B41J 3/00 B ,  H04N 1/40 101 H ,  H04N 1/46 A
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (10)
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