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J-GLOBAL ID:200903044412626004
評価値計測装置と価格水準の刻み幅決定方法とそのためのプログラム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人快友国際特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003427206
Publication number (International publication number):2005189926
Application date: Dec. 24, 2003
Publication date: Jul. 14, 2005
Summary:
【課題】 膨大な数の事前調査やプレテスト等をせずに適切な価格水準の刻み幅を決定する。【解決手段】 価格水準決定部28の算出部30が、DB26から最低価格水準Pminと最高価格水準Pmaxと価格水準の刻み幅Δを抽出し、PminとΔの関係を表わす関数f1と、PmaxとΔの関係を表わす関数f2を算出する。決定部32は、調査対象商品分類内の最低価格と関数f1から価格水準の刻み幅Δk1を算出し、最高価格と関数f2から価格水準の刻み幅Δk2を算出し、Δk1とΔk2を平均して調査対象商品分類の価格水準の刻み幅Δkを決定する。決定部34は、調査対象商品分類内の最低価格と最高価格の間をΔkで刻んで価格水準群を決定する。評価値算出部36は、決定された価格水準を利用した価値観調査結果に対してコンジョイント分析を実行し、商品属性に属する水準に対する評価値を算出する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
購入者が商品選択要因とする属性に属する水準に対して購入者が認める評価値を計測する装置であり、
過去の計測時に正確な評価値をもたらした、同一商品分類内の最低価格と価格水準の刻み幅の関係を表わす関数f1を記憶している手段と、
過去の計測時に正確な評価値をもたらした、同一商品分類内の最高価格と価格水準の刻み幅の関係を表わす関数f2を記憶している手段と、
これから計測する商品分類内の最低価格と前記関数f1から価格水準の刻み幅Δk1を算出する手段と、
これから計測する商品分類内の最高価格と前記関数f2から価格水準の刻み幅Δk2を算出する手段と、
前記価格水準の刻み幅Δk1とΔk2を平均してこれから計測する商品分類のための価格水準の刻み幅Δkを決定する手段と、
これから計測する商品分類内の最低価格と最高価格の間を価格水準の刻み幅Δkで刻んで価格水準群を決定する手段と、
決定された価格水準群を利用して得られた購入者の価値観調査結果に対して、コンジョイント分析を実行し、属性に属する水準に対する評価値を算出する評価値算出手段と、
を有する評価値計測装置。
IPC (1):
FI (2):
G06F17/60 150
, G06F17/60 170C
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
商品企画支援装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-238839
Applicant:三洋電機株式会社
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