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J-GLOBAL ID：200903044486558205

電界解放型質量分析法

Inventor： ガイス,ロジャー
Applicant, Patent owner： ノースイースタン・ユニバーシティ
Agent (1)： 秋元 輝雄
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000518407
Publication number (International publication number)：2001521275
Application date： Oct. 21, 1998
Publication date： Nov. 06, 2001
Summary：

【要約】【解決手段】 DNAのような基質を解放および分析する方法であり、a)前記基質を、印加エネルギに応じて分裂可能な解放基を介して、第1の電極に共有または配位結合させ、b)前記第1の電極と、前記第1の電極から真空または気相によって離された第2の電極との間に電位を確立するために、共有結合または配位結合した前記基質を起立させるに十分な強度の電界を導入し、c)前記解放基を分裂して、前記基質を真空または気相中に解放するために、前記解放基に十分なエネルギを直接印加する。

Claim (excerpt)：

基質を真空または気相中に解放する方法であって、 a)前記基質を、印加エネルギに応じて分裂可能な解放基を介して、第1の電極の先端部に共有または配位結合させる工程と、 b)前記第1の電極と、前記第1の電極から真空または気相を介して離れた第2の電極との間に電位を確立するように、共有結合または配位結合した前記基質を起立させるに十分な強度の電界を導入する工程と、 c)前記解放基を分裂して、前記基質を真空または気相中に解放するために、前記解放基に十分なエネルギを印加する工程とを備えることを特徴とする方法。

IPC (2)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62

FI (2)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62 G

F-Term (7)：

5C038EE02 ,  5C038EE03 ,  5C038EF01 ,  5C038EF15 ,  5C038EF16 ,  5C038GH05 ,  5C038GH06