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J-GLOBAL ID：200903044510407140

ブリルアンゲインスペクトル測定方法および装置

Inventor： 保立 和夫 ,  長谷川 健美 ,  下田平 寛
Applicant, Patent owner： アンリツ株式会社 ,  保立 和夫 ,  長谷川 健美
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998375465
Publication number (International publication number)：2000180265
Application date： Dec. 14, 1998
Publication date： Jun. 30, 2000
Summary：

【要約】【課題】1m以下の空間分解能でブリルアンゲインスペクトルを測定できる方法および装置を提供する。【解決手段】光源1と光源2から出射された、所定の変調周波数で周波数変調されたポンプ光とプローブ光を、被測定光ファイバ6の両端から入射する。周波数変換器3を用いてプローブ光の中心周波数を、ポンプ光とプローブ光の中心周波数の周波数差がブリルアン周波数シフトの近傍となるよう変化させると、両光の位相が同期する位置において選択的に、ポンプ光からプローブ光へのパワーの移動が発生する。被測定光ファイバ6から出射後、光分岐器4で分岐されたプローブ光のパワーを光検出器5で検出することにより、両光の位相が同期する位置におけるブリルアンゲインスペクトルを測定する。

Claim (excerpt)：

所定の変調周波数で周波数変調された第1の連続発振光と前記所定の変調周波数と等しい変調周波数で周波数変調された第2の連続発振光とを用いたブリルアンゲインスペクトル測定方法であって、前記第1の連続発振光を被測定光ファイバの一端面から入射させ、前記第2の連続発振光の中心周波数を周波数シフトし、該周波数シフトにより中心周波数のシフトした前記第2の連続発振光を被測定光ファイバの他端面から入射させ、前記第2の連続発振光の中心周波数の周波数シフト量を変化させて、被測定光ファイバの前記一端面または前記他端面から出射された光のパワーを測定することで、被測定光ファイバにおいて前記第1の連続発振光の位相と第2の連続発振光の位相が同期し相関値が高まる位置におけるブリルアンゲインスペクトルを測定することを特徴とするブリルアンゲインスペクトル測定方法。

IPC (3)：

G01J 9/00 ,  G01J 5/10 ,  G01K 11/12

FI (3)：

G01J 9/00 ,  G01J 5/10 E ,  G01K 11/12 F

F-Term (6)：

2F056VF02 ,  2F056VF11 ,  2F056VF16 ,  2F056VF17 ,  2G066BA18 ,  2G066CA20

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開平4-077641
  
• 特開平3-031736