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J-GLOBAL ID:200903044555464064

半導体装置及びその方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 佐藤 隆久
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000292990
Publication number (International publication number):2002111494
Application date: Sep. 26, 2000
Publication date: Apr. 12, 2002
Summary:
【要約】【課題】製造工程のバラツキによって特性が所望値より外れたA/Dコンバータに対して、そのオフセットを自動的に補正することにより、所望の変換特性を実現でき、歩留りの向上を実現できる半導体装置及びその補正方法を提供する。【解決手段】A/Dコンバータ10と不揮発性メモリ20を含む半導体装置において、出荷前の検査でA/Dコンバータ10のオフセット電圧VOFS を測定し、それに応じて変換結果を補正する補正値DOFS を求めて不揮発性メモリ20に記憶する。出荷後半導体装置の使用時、A/Dコンバータ10から出力されたA/D変換結果DATに不揮発性メモリ20から読み出された補正値DOFS を加算して補正処理を行うことで、A/Dコンバータ10のオフセット電圧VOFS による誤差を補正でき、A/Dコンバータ10の変換精度を向上でき、歩留りの改善及びコストの低減を実現できる。
Claim (excerpt):
入力されたアナログ信号のレベルに応じたディジタル信号を出力するA/Dコンバータと、上記A/Dコンバータのオフセット電圧に応じて求められた補正値を記憶する記憶手段と、上記A/Dコンバータの変換値を上記記憶手段から読み出した上記補正値で補正する補正手段とを有する半導体装置。
F-Term (4):
5J022AA01 ,  5J022BA03 ,  5J022CD02 ,  5J022CG01

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