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J-GLOBAL ID：200903044620920250
距離測定用半導体集積回路
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
川口 義雄 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992019130
Publication number (International publication number)：1993066129
Application date： Feb. 04, 1992
Publication date： Mar. 19, 1993
Summary：
【要約】【目的】 距離測定装置の低コスト化及び高性能化を図ることのできる距離測定用ICを提供する。【構成】 被測距対象物20からの光を受取りこの対象物までの距離に応じた信号を出力する受光素子30を有するオートフォーカス装置用の距離測定用半導体集積回路40は、以下の各要素がワンチップ内に形成されている。受光素子からの信号から対象物までの距離に反比例したデジタルの測距データを形成する距離測定演算部41、キャリブレーションモード時に既知の2つの距離について距離測定演算部41から出力される2つの測距データが書き込まれる記憶部42、及び測距モード時に記憶部42に記憶されている2つの測距データと距離測定演算部41から出力される測距データとからオートフォーカス装置制御信号を演算するデータ演算部43である。
Claim (excerpt)：
被測距対象物からの光を受取り該対象物までの距離に応じた信号を出力する受光素子を有するオートフォーカス装置用の距離測定用半導体集積回路であって、前記受光素子からの前記信号から前記対象物までの距離に反比例したデジタルの測距データを形成する距離測定演算手段と、キャリブレーションモード時に既知の2つの距離について前記距離測定演算手段から出力される2つの測距データが書き込まれる記憶手段と、測距モード時に前記記憶手段に記憶されている前記2つの測距データと前記距離測定演算手段から出力される測距データとから前記オートフォーカス装置の制御信号を演算するデータ演算手段とがワンチップ内に形成されていることを特徴とする距離測定用半導体集積回路。
IPC (3)：
G01C 3/06
, G02B 7/28
, G01S 7/48
Cited by examiner (7)
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