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J-GLOBAL ID：200903044736752614
分析装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
吉田 稔 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997141395
Publication number (International publication number)：1998332691
Application date： May. 30, 1997
Publication date： Dec. 18, 1998
Summary：
【要約】【課題】 分析装置側のペースではなく、操作側のペースにしたがって試験片の分析を行えるようにする。【解決手段】 試験片導入部8に試験片が導入されたことを検知する検知手段80を設け、当該試験片4が検知手段によって検知されてから一定時間経過時に当該試験片4が分析部位に達するようになされており、一方、上記光学的装置40は、上記検知手段80が当該試験片4が導入されたことを検知してから一定時間経過時に駆動され、この時に分析部位に位置する当該試験片4の分析を行うようにした。好ましくは、試験片導入部8から導入された試験片4を所定の姿勢を維持したまま上記搬送装置7まで移動させる移動装置60をさらに備える。
Claim (excerpt)：
試験片導入部から導入された試験片を所定の搬送経路に沿って分析部位まで搬送させる搬送装置と、分析部位に達した試験片を光を利用して分析する光学的装置と、を備えた分析装置であって、上記試験片導入部には、試験片が導入されたことを検知する検知手段が設けられており、当該試験片が検知手段によって検知されてから一定時間経過時に当該試験片が分析部位に達するようになされており、一方、上記光学的装置は、上記検知手段が当該試験片が導入されたことを検知してから一定時間経過時に駆動され、この時に分析部位に位置する当該試験片の分析を行うようになされていることを特徴とする、分析装置。
IPC (3)：
G01N 33/52
, G01N 21/78
, G01N 31/22 121
G01N 33/52 B
, G01N 21/78 B
, G01N 31/22 121 F
Cited by examiner (6)
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