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J-GLOBAL ID：200903044908180138
測定値評価方式
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
伊丹 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991189245
Publication number (International publication number)：1993010751
Application date： Jul. 03, 1991
Publication date： Jan. 19, 1993
Summary：
【要約】【目的】 測定時や加工時にワークの取り付け誤差が発生しても、これによる設計値照合への影響を取り除き、常に正しい三次元測定値の評価を可能にする。【構成】 測定座標値によって特定される自由曲面Sと設計点Qとの間の最短距離を評価関数fとして評価座標系(第1座標系)G1に対する設計座標系(第2座標系)G2の位置関係を非線形最小二乗法によって求める。そして、求められた位置関係に基づいて評価座標系G1に対する設計座標系G2のずれを修正したのち、測定値と設計値との照合を行う。
Claim (excerpt)：
既知形状の自由曲面を測定することによって得られた測定座標値と設計座標値との間の誤差を評価する測定値評価方式において、前記測定座標値によって特定される自由曲面と前記設計座標値との間の最短距離を評価関数とし、この評価関数が最小値に収束する測定座標値の第1座標系と設計座標値の第2座標系との間の相対位置関係を求め、得られた両座標系の間の相対位置関係に基づいて前記両座標系のうちの一方に対して他方を整合させる座標変換処理を行なったのち、前記測定座標値と設計座標値との間の誤差を評価することを特徴とする測定値評価方式。
Patent cited by the Patent：
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