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J-GLOBAL ID：200903044969308889

ホログラム観測装置

Inventor： 北吉 均
Applicant, Patent owner： 株式会社アドバンテスト
Agent (1)： 草野 卓 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992311957
Publication number (International publication number)：1994161339
Application date： Nov. 20, 1992
Publication date： Jun. 07, 1994
Summary：

【要約】【目的】 分解能が高い画像を表示することができるホログラム観測装置を提供する。【構成】 固定センサで得られる基準データと、観測面を走査する走査センサで得られる各点の走査データとを周波数スペクトルに変換し、これら周波数スペクトルを相対ベクトル演算してホログラムデータを得、このホログラムデータを2次元周波数分析手段によりx方向及びy方向に関してそれぞれ周波数分析して画像データを得るように構成されたホログラム観測装置において、2次元周波数分析手段を構成するx方向及びy方向に周波数分析を行う縦続接続された2つの周波数分析手段を、それぞれ高速フーリエ変換手段によって周波数分析した結果を、複素化された最大エントロピー法に従って動作する周波数分析手段の周波数分析結果によって重み付けして取り出す構造とした。

Claim (excerpt)：

A.固定センサで得られる基準データと、観測面を走査する走査センサで得られる各点の走査データとを周波数スペクトルに変換し、これら周波数スペクトルを相対ベクトル演算してホログラムデータを得、このホログラムデータを2次元周波数分析手段によりx方向及びy方向に関してそれぞれ周波数分析して画像データを得るように構成されるホログラム観測装置において、B.上記2次元周波数分析手段を構成するx方向及びy方向に周波数分析を行う縦続接続された2つの周波数分析手段を、それぞれ高速フーリエ変換手段によって周波数分析した結果を、複素化された最大エントロピー法に従って動作する周波数分析手段の周波数分析結果によって重み付けして取り出す構造としたことを特徴とするホログラム観測装置。

IPC (2)：

G03H 3/00 ,  G03H 5/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭55-004039
  
• 特開昭58-095774
  
• 特開昭62-069225