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J-GLOBAL ID：200903044981268183

プラント制御装置、その異常同定方法および異常同定装置

Inventor： 石井 良和 ,  鈴木 勝幸 ,  市川 芳明 ,  中原 貢
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高橋 明夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995029351
Publication number (International publication number)：1996220279
Application date： Feb. 17, 1995
Publication date： Aug. 30, 1996
Summary：

【要約】【目的】異なるプロセス量を制御する複数の制御系を持つプラント制御装置において、異常原因となる系統を早期に確実に検出する。【構成】複数の制御系は各々、制御量を目標値に制御するコントローラ111、121、131と、その出力に応じて操作されるアクチュエータ112、122、132と、アクチュエータの動作によって制御される操作量を検出するセンサー117、127、1137と、制御量を検出するセンサー114、124、134からなる。運転中に各系から検出される操作量や制御量の変動状態の組合せを基に、予め記憶されている異常同定パターンと照合して異常系統を同定する異常判定手段141を設けている。獲得手段171は、プラント運転前に、所定の制御系統を異常として、各制御系統の操作量や制御量に生じる変動状態を検出して異常同定パターンを獲得する。

Claim (excerpt)：

異なるパラメータを制御する複数の制御系を有するプラント制御装置で、プラントの複数の主要なパラメータを監視して異常な制御系を同定する方法において、予め、一つの制御系が異常となる場合に各制御系の主要なパラメータに生じる変動状態を組合わせた異常同定パターンを、所定の制御系または複数の制御系の各々について記憶し、プラントの運転中に各制御系の主要なパラメータを検出し、それらパラメータの変動状態を組合わせた変動パターンを前記異常同定パターンと照合して一致する場合に、対応する制御系を異常と判定することを特徴とするプラント制御装置の異常同定方法。

IPC (3)：

G21C 17/00 GDB ,  G05B 23/02 302 ,  G21D 3/08 GDB

FI (3)：

G21C 17/00 GDB P ,  G05B 23/02 302 Y ,  G21D 3/08 GDB R