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J-GLOBAL ID：200903045038491066

自動テスト方法および自動テスト装置

Inventor： 谷川 英和 ,  田中 裕彦
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 中島 司朗
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993240082
Publication number (International publication number)：1995093187
Application date： Sep. 27, 1993
Publication date： Apr. 07, 1995
Summary：

【要約】【目的】 多様な条件でのテストを人手により一度も行うことなく自動的に実行できる自動テスト装置を提供する。【構成】 テストケース管理部1は、複数の属性値からなるテストケースを管理する。テストケース生成部2は、テストケース管理部1からテストケースを構成する複数の属性値を取り出して、それらの組合せを変えて結合することによりテストケースを生成する。実行部3は、テストケース生成部2により生成されたテストケースを実行する。

Claim (excerpt)：

複数の属性値からなるテストケースを管理するテストケース管理手段からテストケースを構成する複数の属性値を取り出して、それらの組合せを変えて結合することによりテストケースを生成するテストケース生成ステップと、前記テストケース生成ステップにおいて生成されたテストケースを実行する実行ステップと、を実行することを特徴とする自動テスト方法。

IPC (2)：

G06F 11/28 340 ,  G06F 9/06 540