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J-GLOBAL ID：200903045099371713

表裏パターン検査装置

Inventor：
草田 晃司

About 草田 晃司

, 
岡本 紳二

About 岡本 紳二


Applicant, Patent owner：
松下電工株式会社

About 松下電工株式会社


Agent (1)： 佐藤 成示 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995008623
Publication number (International publication number)：1996201035
Application date： Jan. 24, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：
【要約】【目的】 プリント配線板上の検査箇所を検査装置の撮像領域に容易に、かつ、迅速に位置合わせすることができる作業効率の高い表裏パターン検査装置を提供することにある。【構成】 本発明の表裏パターン検査装置は、プリント配線板7の表面、裏面を撮像する撮像手段1と、それぞれの画像を重ねてプリント配線板7の表裏に描写したパターンの位置ずれを測定する画像処理手段2を有する表裏パターン検査装置において、表面を撮像する撮像手段1aとプリント配線板7の表面8を結ぶ撮像路9の間に半透過屈折手段3を配し、プリント配線板7の撮像領域10を目視確認する目視確認手段4を有することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
プリント配線板(7)の表面、裏面を撮像する撮像手段(1)と、それぞれの画像を重ねてプリント配線板(7)の表裏に描写したパターンの位置ずれを測定する画像処理手段(2)を有する表裏パターン検査装置において、表面を撮像する撮像手段(1a)とプリント配線板(7)の表面(8)を結ぶ撮像路(9)の間に半透過屈折手段(3)を配し、プリント配線板(7)の撮像領域(10)を目視確認する目視確認手段(4)を有することを特徴とする表裏パターン検査装置。
IPC (3)：
G01B 11/24 ,  G01N 21/00 ,  G06T 7/00
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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