Pat
J-GLOBAL ID:200903045146102556
蛍光画像測定方法および装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
柳田 征史 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999321394
Publication number (International publication number):2001137173
Application date: Nov. 11, 1999
Publication date: May. 22, 2001
Summary:
【要約】【課題】 蛍光画像測定方法および装置において、蛍光収率の測定精度を高め、より正確な蛍光収率画像を取得する。【解決手段】 光標準励起光画像メモリ41に記憶された励起光Reの照射強度分布と、標準参照光画像メモリ42に記憶された参照光Saの照射強度分布とに基づいて、参照光画像データDsを得たときの参照光Saの照射強度分布が励起光Reの照射強度分布であった場合に得られたであろう励起光対応参照光画像データDrsを求める補正演算を、参照光補正演算器46によって参照光画像データDsに施し、この補正演算が施された励起光対応参照光画像データDrsと蛍光画像データDjとに基づき蛍光収率画像演算器53によって蛍光収率画像を求める。
Claim (excerpt):
励起光の照射を受けた生体組織から発生した蛍光と、参照光の照射を受けた前記生体組織によって反射された反射光とをそれぞれ蛍光画像および参照光画像として検出し、前記蛍光画像と前記参照光画像とに基づいて蛍光収率画像を求める蛍光画像測定方法であって、前記励起光の照射強度分布と前記参照光の照射強度分布とに基づいて、前記参照光画像を得たときの前記参照光の照射強度分布が前記励起光の照射強度分布であった場合に得られたであろう励起光対応参照光画像を求める補正演算を前記参照光画像に施し、この励起光対応参照光画像と前記蛍光画像とに基づいて前記蛍光収率画像を求めることを特徴とする蛍光画像測定方法。
IPC (3):
A61B 1/00 300
, G01N 21/64
, G06T 1/00
FI (4):
A61B 1/00 300 D
, G01N 21/64 Z
, G06F 15/62 390 Z
, G06F 15/64 B
F-Term (42):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA03
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043GA02
, 2G043GA08
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043HA05
, 2G043HA09
, 2G043JA03
, 2G043KA02
, 2G043LA03
, 2G043MA11
, 2G043NA01
, 2G043NA06
, 4C061AA00
, 4C061BB02
, 4C061BB08
, 4C061CC06
, 4C061DD00
, 4C061LL02
, 4C061NN01
, 4C061NN05
, 4C061PP07
, 4C061QQ02
, 4C061QQ04
, 4C061QQ07
, 4C061SS22
, 4C061WW17
, 5B047AA17
, 5B047BA02
, 5B047BC05
, 5B047BC08
, 5B047BC09
, 5B047EA07
, 5B057AA07
, 5B057BA02
, 5B057BA15
, 5B057CC01
, 5B057CE11
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