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J-GLOBAL ID：200903045329595683

金属缶の印刷欠陥の検出方法

Inventor： 高田 淳一
Applicant, Patent owner： 岸本 昭
Agent (1)： 吉田 研二 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996241553
Publication number (International publication number)：1998090200
Application date： Sep. 12, 1996
Publication date： Apr. 10, 1998
Summary：

【要約】【課題】 金属缶の表面印刷のキズ等の印刷欠陥を精度高く、短時間で検出する。【解決手段】 表面印刷された測定対象金属缶を回転させながら、表面印刷を画像読込みし、読取られた測定対象金属缶の印刷画像のX軸及びY軸分布を算出し、測定対象金属缶の印刷画像と標準参照用印刷画像とのX軸及びY軸分布を比較して、両者のX軸及びY軸分布のずれから、両印刷画像の位置合わせを行い、その後両印刷画像をそれぞれ複数の小領域のブロックに分割する。更に少なくとも一方の印刷画像の任意のブロックを固定し、当該任意のブロックに相当する他方の印刷画像のブロックをその周囲の所定領域内で一部重畳させながら移動させ、ブロックの移動毎に、両印刷画像のブロックを比較し、両ブロック内の該当画素毎の階調値の差の絶対値を求め、階調値の差が最も小さい比較ブロックを特定し、全印刷画像の比較ブロックと固定ブロックとを比較し、印刷の欠陥を検出する。

Claim (excerpt)：

表面印刷された測定対象金属缶を回転させながら、測定光を照射し、表面からの反射光を光電アレイ検出器により1ラインずつ読取り、又は表面印刷された製缶前の平板に、測定光を照射し、表面からの反射光を光電アレイ検出器により1ラインずつ読取り、表面印刷を画像読込みする画像読込み工程と、読取られた前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像のX軸分布及びY軸分布を算出するX軸及びY軸分布算出工程と、前記印刷画像のX軸及びY軸分布と標準参照用印刷画像のX軸及びY軸分布とを比較し、両者の分布のずれから、前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像と標準参照用印刷画像とのX軸及びY軸の位置合わせを行う位置合わせ工程と、前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像及び標準参照用印刷画像をそれぞれ複数の小領域のブロックに分割するブロック化工程と、少なくとも一方の印刷画像の任意のブロックを固定して、当該任意のブロックに相当する他方の印刷画像のブロックをその周囲の所定領域内で一部重畳させながら移動させるブロック移動工程と、ブロックの移動毎に、前記測定対象金属缶又は平板の印刷画像のブロックと標準参照用印刷画像のブロックとを比較し、両ブロック内の該当画素毎の階調値の差の絶対値を求め、前記階調値の差が最も小さい比較ブロックを特定する比較ブロック特定工程と、全印刷画像の比較ブロックと固定ブロックとを比較し、印刷の欠陥を検出する欠陥検出工程と、を有することを特徴とする金属缶の印刷欠陥の検出方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• マルチ処理型円筒缶検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-285156   Applicant：大和製罐株式会社
• 特開昭63-168788
  
• 柄合せ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-332559   Applicant：ジューキ株式会社
• 特開昭60-159972