核磁気共鳴法を用いた多孔質炭素系材料の評価方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：吉武賢次 , 中村行孝 , 紺野昭男 , 横田修孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002251158
Publication number (International publication number)：2004093187
Application date： Aug. 29, 2002
Publication date： Mar. 25, 2004
Summary：

【課題】多孔質炭素系材料において、ガス吸着等を支配する平均細孔径、ガス吸着量、吸着エンタルピー、及び、ナノレベルの表面粗度を評価する方法を提供する。【解決手段】平均細孔径が既知で、かつ平均細孔径が異なる複数の多孔体に、スピン偏極を行ったXeまたはHeガスを物理吸着させ、各多孔体に物理吸着したガスの核磁気共鳴スペクトルを測定し、該スペクトルから得られる吸着ガスの化学シフト値と各多孔体の平均細孔径との関係を求め、次に、多孔質炭素系材料に前記ガスと同じ種類のガスを物理吸着させ、該吸着ガスの核磁気共鳴スペクトルを測定し、該スペクトルから得られる吸着ガスの化学シフト値と、前記吸着ガスの化学シフト値と各多孔体の平均細孔径との関係から、該多孔質炭素系材料の平均細孔径を求めることを特徴とする核磁気共鳴法を用いた多孔質炭素系材料の評価方法である。【選択図】なし

Claim (excerpt)：

平均細孔径が既知で、かつ平均細孔径が異なる複数の多孔体に、スピン偏極を行ったXeまたはHeガスを物理吸着させ、各多孔体に物理吸着したガスの核磁気共鳴スペクトルを測定し、該スペクトルから得られる吸着ガスの化学シフト値と各多孔体の平均細孔径との関係を求め、次に、多孔質炭素系材料に前記ガスと同じ種類のガスを物理吸着させ、該吸着ガスの核磁気共鳴スペクトルを測定し、該スペクトルから得られる吸着ガスの化学シフト値と、前記吸着ガスの化学シフト値と各多孔体の平均細孔径との関係から、該多孔質炭素系材料の平均細孔径を求めることを特徴とする、核磁気共鳴法を用いた多孔質炭素系材料の評価方法。

IPC (5)：

G01N24/08 , C01B31/02 , C01B31/08 , G01N24/00 , G01R33/28

FI (5)：

G01N24/08 510P , C01B31/02 101B , C01B31/08 Z , G01N24/02 B , G01N24/00 Z

F-Term (7)：

4G146AA06 , 4G146AB01 , 4G146AC04 , 4G146AC16 , 4G146AC28 , 4G146AD31 , 4G146AD35

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

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Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-177776 Applicant：新日本製鐵株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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