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J-GLOBAL ID:200903045348868798
測定範囲に制限のない3次元測定器
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993033892
Publication number (International publication number):1994207829
Application date: Jan. 11, 1993
Publication date: Jul. 26, 1994
Summary:
【要約】【目的】 この発明は,広範囲において3次元測定を行なう装置に関するものである。【構成】 容易に持ち運びが出来る多間接型3次元測定器(1)と座標基準器(2)とを組み合せ,多間接型3次元測定器(1)に座標基準器(2)の座標基準点(3)3点より仮想3次元原点求め,多間接型3次元測定器(1)を移動し再度,多間接型3次元測定器(1)に座標基準器(2)の座標基準点(3)3点より移動前の仮想3次元原点を求める事により,多間接型3次元測定器(1)の移動前と後の測定点を相対的に計測する測定範囲に制限のない3次元測定器。
Claim (excerpt):
多間接型3次元測定器(1)と座標基準器(2)とからなる,測定範囲に制限のない3次元測定器
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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特開昭57-132015
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特開昭56-093004
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