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J-GLOBAL ID：200903045359942787

記録装置及びその異常検査方法

Inventor： 井上 博之
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 土橋 皓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995202411
Publication number (International publication number)：1997050212
Application date： Aug. 08, 1995
Publication date： Feb. 18, 1997
Summary：

【要約】【課題】 記録装置及びその異常検査方法に関し、記録装置の異常についてその異常原因の究明を可能とすることを目的とする。【解決手段】記録機構部11と、当該記録機構部11によって像形成体に形成され又は記録媒体に記録された非画像領域について、かぶりパターンの検出及び分析を行う解析手段12と、当該解析手段の解析結果に基づいて、装置が異常か否かの判断、及び、異常であるとの判断があった場合の異常原因の特定を行う異常検査手段13とを有するように構成する。

Claim (excerpt)：

記録機構部と、当該記録機構部によって像形成体に形成され又は記録媒体に記録された非画像領域について、かぶりパターンの検出及び分析を行う解析手段と、当該解析手段の解析結果に基づいて、装置が異常か否かの判断、及び、異常であるとの判断があった場合の異常原因の特定を行う異常検査手段とを有することを特徴とする記録装置。

IPC (3)：

G03G 21/00 500 ,  B41J 29/46 ,  G03G 15/08 507

FI (3)：

G03G 21/00 500 ,  B41J 29/46 B ,  G03G 15/08 507 K