試料ディスク及び試料解析装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：伊藤研一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000195412
Publication number (International publication number)：2002014106
Application date： Jun. 29, 2000
Publication date： Jan. 18, 2002
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】試料の解析作業時に試料及び試料プローブに関する各種情報を簡易、かつ効率的に取り出して利用することを可能にする試料ディスク及び試料解析装置の提供。【解決手段】円盤状基板の一面に試料プローブに関する各種情報を書き込み及び読み取り可能な記録層を設けると共に他面に各種の試料プローブを区分けして配列固定してなり、記録層には少なくとも配列固定された試料プローブに関する各種データを記録可能にする。試料ディスクの記録層に相対して情報書込み読取り部材を数値制御可能に移動し、記録層に対して光源から出力される光及び記録層に形成される磁界により記録層の磁化方向を配向して各種情報を記録すると共に記録層に照射される光の反射光強度により各種情報を読み取る解析用試料に標識された標識物質を検出して解析用試料が掛け合わされた試料プローブを特定する。

Claim (excerpt)：

円盤状基板の一面に試料プローブに関する各種情報を書き込み及び読み取り可能な記録層を設けると共に他面に各種の試料プローブを区分けして配列固定してなり、記録層には少なくとも試料プローブに関する各種データを記録可能にした試料ディスク。

IPC (9)：

G01N 35/00 , G01N 35/02 , G01N 35/04 , G11B 7/004 , G11B 7/007 , G11B 11/105 501 , C12M 1/00 , C12N 15/09 , C12Q 1/68

FI (9)：

G01N 35/00 A , G01N 35/02 F , G01N 35/04 A , G11B 7/004 Z , G11B 7/007 , G11B 11/105 501 Z , C12M 1/00 A , C12Q 1/68 A , C12N 15/00 F

F-Term (47)：

2G058AA09 , 2G058CC09 , 2G058CD05 , 2G058GC01 , 2G058GC02 , 2G058GC05 , 2G058GD00 , 4B024AA19 , 4B024CA01 , 4B024CA11 , 4B024HA12 , 4B029AA07 , 4B029BB15 , 4B029BB20 , 4B029CC03 , 4B029CC08 , 4B029FA15 , 4B063QA01 , 4B063QA07 , 4B063QA08 , 4B063QA18 , 4B063QA19 , 4B063QQ02 , 4B063QQ08 , 4B063QQ42 , 4B063QQ52 , 4B063QQ79 , 4B063QR55 , 4B063QR66 , 4B063QR84 , 4B063QS03 , 4B063QS10 , 4B063QS34 , 4B063QS36 , 4B063QS39 , 4B063QX02 , 5D075AA03 , 5D075EE03 , 5D090AA01 , 5D090BB10 , 5D090CC01 , 5D090CC04 , 5D090CC14 , 5D090CC18 , 5D090DD03 , 5D090EE20 , 5D090HH01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

被検体の迅速なスクリーニング法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2000-569234 Applicant：テイボテク・エヌ・ブイ
ディスク表面上に固定された捕獲分子を含む方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2000-527830 Applicant：ルマクル,ジョゼ
特開平4-315947

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