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J-GLOBAL ID:200903045461460290
反ストークスラマン散乱内視鏡検査のシステムおよび方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (2):
吉田 研二
, 石田 純
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2008535587
Publication number (International publication number):2009511175
Application date: Oct. 06, 2006
Publication date: Mar. 19, 2009
Summary:
試料体から信号場を検出するシステムを提供する。このシステムは、供給源システムと光ファイバシステムとを備える。供給源システムは、第1の周波数で第1の電磁場を提供し、第1の周波数とは異なる第2の周波数で第2の電磁場を提供する。この光ファイバシステムは、第1の電磁場および第2の電磁場を試料体に誘導して第1の場および第2の場と試料体積との非線形相互作用によって分子振動のコヒーレント放射特性を発生させる、少なくとも1つの光ファイバを備える。また、この光ファイバシステムは、コヒーレント放射の結果生じる信号場を受信し、この信号場を検出器に誘導する。
Claim (excerpt):
試料体から信号場を検出するシステムであって、
第1の周波数で第1の電磁場を供給し、前記第1の周波数とは異なる第2の周波数で第2の電磁場を供給する供給源システムと、
前記第1の電磁場および前記第2の電磁場を前記試料体に導入して前記第1の電磁場および前記第2の電磁場と前記試料体との非線形相互作用によって分子振動のコヒーレント放射を発生させ、前記コヒーレント放射の結果生じる信号場を受信し、前記信号場を検出器に誘導する少なくとも1つの光ファイバを有する光ファイバシステムと、
を備えるシステム。
IPC (2):
FI (2):
A61B1/00 300D
, G01N21/65
F-Term (12):
2G043AA03
, 2G043CA05
, 2G043EA04
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043HA05
, 2G043KA01
, 2G043KA05
, 2G043LA01
, 4C061FF46
, 4C061HH51
, 4C061QQ03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
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カテーテルヘッド
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2006-506886
Applicant:コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
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