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J-GLOBAL ID:200903045542119259

時間分解電子スピン共鳴測定方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 平木 祐輔 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001060848
Publication number (International publication number):2002257759
Application date: Mar. 05, 2001
Publication date: Sep. 11, 2002
Summary:
【要約】【課題】 動的キャリアなどによる過渡的な誘電率変化を効果的に除去し、動的誘電率変化信号の数%以下の弱い時間分解ESR信号のみを精度よく測定する。【解決手段】 試料及び空洞共振器からなる試料室を2組用い、一方の試料室(主試料室)を磁場の中、もう一方(参照試料室)を磁場の外におく。時間分解ESR信号は主試料室のみに発生し、動的キャリア信号は主試料室と参照試料室の両方に発生する。この両方の試料室に単一のマイクロ波源から分割したマイクロ波を照射する。そして試料室を通過した後のマイクロ波信号を、マイクロ波の位相を180度ずらして合成しすることによってマイクロ波レベルで効果的に差信号に変換する。合成した後の信号には主として時間分解ESR信号のみが含まれる。
Claim (excerpt):
磁場中に配置された第1の空洞共振器に挿入された第1の試料と磁場外に配置された第2の空洞共振器に挿入された前記第1の試料と同等の第2の試料にマイクロ波を照射しながら同時にパルス光を照射するステップと、前記第1の空洞共振器から反射されて帰還する第1のマイクロ波信号と前記第2の空洞共振器から反射されて帰還する第2のマイクロ波信号との差を取るステップとを含み、試料の誘電率変化による動的な信号変化を消去して電子スピン共鳴信号のみを取り出すことを特徴とする時間分解電子スピン共鳴測定方法。
IPC (4):
G01N 24/10 510 ,  G01N 24/10 ,  A61B 5/055 ,  G01N 22/00
FI (4):
G01N 24/10 510 L ,  G01N 24/10 510 S ,  G01N 22/00 J ,  A61B 5/05 400
F-Term (2):
4C096AA20 ,  4C096AB50

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