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J-GLOBAL ID：200903045554561267

CT装置における逆方向追加スキャン方法およびCT装置

Inventor： 原 光彦 ,  堀内 哲也
Applicant, Patent owner： ジーイー横河メディカルシステム株式会社
Agent (1)： 有近 紳志郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994251712
Publication number (International publication number)：1996112275
Application date： Oct. 18, 1994
Publication date： May. 07, 1996
Summary：

【要約】【目的】 複数連続スキャンのスキャン計画の実行開始時のスキャン条件を踏襲して逆方向の追加スキャンを行う場合に、その実行を容易にする。【構成】 CT装置100は、操作者がスキャン計画を設定するための入出力装置1と、設定されたスキャン計画を記憶するスキャン計画記憶部2と、そのスキャン計画記憶部2に記憶されている複数連続スキャンのスキャン計画のスキャン開始時のスキャン条件に基づいて逆方向追加スキャン条件を生成し記憶する逆方向追加スキャン条件生成記憶部3と、前記スキャン計画記憶部2に記憶されているスキャン計画または前記逆方向追加スキャン条件生成記憶部3に記憶されている逆方向追加スキャン条件に基づいてスキャナ部5を制御するスキャン制御部4と、被検体をスキャンするスキャナ部5とを具備する。【効果】 複数連続スキャンのスキャン計画のスキャン開始時のスキャン条件に基づいて逆方向の追加スキャンのスキャン条件を自動生成し、これを利用するから、逆方向の追加スキャンを容易に実行できる。

Claim (excerpt)：

操作者により設定された複数連続スキャンのスキャン計画に基づいて複数連続スキャンを行う機能と、操作者から追加スキャンを行うことが指示されたときに追加スキャンを行う機能とを有するCT装置において、操作者により設定された前記複数連続スキャンのスキャン計画の実行開始時のスキャン条件に基づいて逆方向追加スキャン条件を生成し記憶し、逆方向追加スキャンを行うことが操作者から指示されたときに前記逆方向追加スキャン条件を呼び出して逆方向追加スキャンを行うことを特徴とするCT装置における逆方向追加スキャン方法。

IPC (2)：

A61B 6/03 323 ,  A61B 6/03 331

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• CT装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-277116   Applicant：株式会社東芝
• 特開平2-246935