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J-GLOBAL ID：200903045645656945

半導体レーザ測長器

Inventor： 和田 順雄
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 篠原 泰司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992113466
Publication number (International publication number)：1993312523
Application date： May. 06, 1992
Publication date： Nov. 22, 1993
Summary：

【要約】【目的】 モードホップがなく高い信頼性の半導体レーザ測長器を提供する。【構成】 光源に分布帰還型又は分布反射型半導体レーザを用い、発振波長を温度制御又は注入電流制御により安定せしめる。分布帰還型及び分布反射型レーザは、その出力にモードホップがなく、また、コヒーレンス長も長い。従って、発振波長を容易に安定させることができ、同時に測長距離を長くできる。

Claim (excerpt)：

光源からの光を光路分割手段により方向の異なる二つの光に分割し、分割された夫々の光を参照反射鏡と移動反射鏡とに導き、該参照反射鏡と移動反射鏡で反射した光を一つに重ねて干渉縞を生ぜしめ、前記移動反射鏡と前記光源との間の距離の変化に伴う干渉縞の強度変化を光検出器で検出することにより前記移動反射鏡までの距離の変化を測定する測長器において、前記光源に分布帰還型又は分布反射型半導体レーザを用い、該半導体レーザに対し温度制御又は注入電流制御を行って、該半導体レーザの発振波長を安定せしめるようにしたことを特徴とする半導体レーザ測長器。

IPC (3)：

G01B 11/02 ,  G01B 9/02 ,  H01S 3/18

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平2-122292
  
• 特開平2-249902
  
• 特開平3-154801
  
• 特開昭50-093787