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J-GLOBAL ID：200903045657443580

分析素子、並びにそれを用いた試料の分析方法

Inventor： 磯村 哲 ,  宗林 孝明 ,  大平落 嘉寛
Applicant, Patent owner： 三菱化学株式会社
Agent (1)： 真田 有
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001167166
Publication number (International publication number)：2002357543
Application date： Jun. 01, 2001
Publication date： Dec. 13, 2002
Summary：

【要約】【課題】 表面プラズモン共鳴(SPR)を利用した試料分析のための分析素子に関し、エバネッセント波を誘起する光学構造として回折格子の構造制御及び試料と接触する表面の性状制御を容易にする。【解決手段】 基板2に支持された平面上に薄膜4を離散的に積層することによって回折格子5を形成し、上記の平面を与える層3と上記薄膜4の何れかを金属膜とする。

Claim (excerpt)：

表面が平面状の第一層と、上記第一層上に離散的に積層されて回折格子を形成する第二層とを備え、上記第一層及び第二層の少なくとも一方は金属膜であることを特徴とする、分析素子。

IPC (2)：

G01N 21/27 ,  G02B 5/18

FI (2)：

G01N 21/27 C ,  G02B 5/18

F-Term (12)：

2G059AA01 ,  2G059BB13 ,  2G059CC20 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE04 ,  2G059FF03 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2H049AA07 ,  2H049AA55 ,  2H049AA64