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J-GLOBAL ID：200903045702388740

X線画像作成方法およびその装置

Inventor： 馬場 理香 ,  植田 健 ,  植木 広則 ,  梅谷 啓二
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Agent (1)： 秋田 収喜
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995311841
Publication number (International publication number)：1997149895
Application date： Nov. 30, 1995
Publication date： Jun. 10, 1997
Summary：

【要約】【課題】 拡散光及び散乱線に起因するX線画像のぼけを補正する。【解決手段】 X線透視画像あるいはX線撮影画像を計測するものであって、この計測されたX線透視画像あるいはX線撮影画像を補正することによって、拡散光成分および散乱線成分を除くX線画像作成方法において、拡散光成分および散乱成分を除く前記補正として、計測された前記X線透視画像あるいはX線撮影画像に基づき、かつX線透視画像あるいはX線撮影画像に対応させた拡散光成分画像および散乱線成分画像をそれぞれ独自に作成するステップと、計測された前記X線透視画像あるいはX線撮影画像から、前記拡散光成分画像および散乱線成分画像の差分をとるステップと、からなる。

Claim (excerpt)：

X線透視画像あるいはX線撮影画像を計測するものであって、この計測されたX線透視画像あるいはX線撮影画像を補正することによって、拡散光成分および散乱線成分を除くX線画像作成方法において、拡散光成分および散乱線成分を除く前記補正として、計測された前記X線透視画像あるいはX線撮影画像に基づき、かつX線透視画像あるいはX線撮影画像に対応させた拡散光成分画像および散乱線成分画像をそれぞれ独自に作成するステップと、計測された前記X線透視画像あるいはX線撮影画像から、前記拡散光成分画像および散乱線成分画像の差分をとるステップと、からなることを特徴とするX線画像作成方法。

IPC (3)：

A61B 6/00 ,  A61B 6/03 350 ,  G06T 1/00

FI (3)：

A61B 6/00 350 A ,  A61B 6/03 350 K ,  G06F 15/62 390 A

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特開昭59-151939
  
• X線診断方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-175776   Applicant：株式会社東芝
• 特開平1-125679