Pat

J-GLOBAL ID：200903045755055220

IC試験装置

Inventor： 清川 敏之
Applicant, Patent owner： 株式会社アドバンテスト
Agent (1)： 草野 卓 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997101672
Publication number (International publication number)：1998293158
Application date： Apr. 18, 1997
Publication date： Nov. 04, 1998
Summary：

【要約】【課題】 簡単容易に各種の被測定ICに適正に対応してその姿勢を認識することができる上述の問題を解消したIC試験装置を提供する。【解決手段】 ICソケット2および中央部に角孔30が形成されてこれにICソケット2を嵌入した状態でICソケット2が取り付けられるソケットガイド3をハンドラに取り付けたIC試験装置において、光反射面rが光放射端部に形成される投光ライトガイドをソケットガイド3に埋設し、ソケットガイド3には、更に、光反射面rが光入射端部に形成される受光ライトガイドを投光ライトガイドに平行に埋設し、投光ライトガイドに対向して投光器を取り付け、受光ライトガイドに対向して受光器を取り付けたIC試験装置。

Claim (excerpt)：

ICソケットおよび中央部に角孔が形成されてこれにICソケットを嵌入した状態でICソケットが取り付けられるソケットガイドをハンドラに取り付けたIC試験装置において、光反射面が光放射端部に形成される投光ライトガイドをソケットガイドに埋設し、ソケットガイドには、更に、光反射面が光入射端部に形成される受光ライトガイドを投光ライトガイドに平行に埋設し、投光ライトガイドに対向して投光器を取り付け、受光ライトガイドに対向して受光器を取り付けたことを特徴とするIC試験装置。

IPC (3)：

G01R 31/26 ,  H01R 33/76 ,  H01L 23/32

FI (3)：

G01R 31/26 J ,  H01R 33/76 ,  H01L 23/32 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 半導体試験装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-211553   Applicant：株式会社富士通宮城エレクトロニクス
• 特開平2-189000