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J-GLOBAL ID：200903045756894861

X線診断装置

Inventor： 本田 道隆
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 三好 秀和 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994205201
Publication number (International publication number)：1996066389
Application date： Aug. 30, 1994
Publication date： Mar. 12, 1996
Summary：

【要約】【目的】 被検体の被曝線量と、画像のS/N比またはコントラスト値を所定の基準に保つようにX線出力条件を決定できるX線診断装置を提供する。【構成】 被検体にX線を曝射するX線管球3と、前記被検体を透過した透過X線像を光学像に変換するI.I.13と、前記光学像の透過量を制御する光学系15と、前記光学像を撮影するTVカメラ17と、S/N比を設定するとともに、前記撮影する透過X線像のS/N比を前記設定されたS/N比とするX線管3のX線曝射条件及び光学系15の光量透過率を求める演算部31と、X線管3及び光学系15をそれぞれ制御するX線コントローラ5と、支持器コントローラ9とから成る。

Claim (excerpt)：

被検体にX線を曝射するX線管と、前記被検体を透過した透過X線像を光学像に変換する変換手段と、前記光学像の透過量を制御する絞り手段と、前記光学像を撮影する撮影手段と、S/N比を設定する設定手段と、前記撮影する透過X線像のS/N比を前記設定されたS/N比とする前記X線管のX線曝射条件及び前記絞り手段の光量透過率を求め、前記X線管及び前記絞り手段をそれぞれ制御する制御手段とを備えることを特徴とするX線診断装置。

IPC (2)：

A61B 6/00 320 ,  H05G 1/64

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 特開昭62-015800
  
• 特開平3-149036
  
• 特開平3-182179
  
• 特開昭55-056399