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J-GLOBAL ID：200903045824588189

レーザー利用測定器の反射戻り光低下装置

Inventor： 高橋知隆
Applicant, Patent owner： グラフテック株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995120908
Publication number (International publication number)：1996292087
Application date： Apr. 21, 1995
Publication date： Nov. 05, 1996
Summary：

【要約】【目的】 測定対象等からの反射光がレーザー光源に戻ることにより生じるモードフリップ現象を防止する。【構成】 異方ブラッグ回折を利用した音響光学素子を用いてレーザー光源への反射戻り光を低減し、また測定対象への照射レーザー光自体を制限し反射戻り光の絶対量を小さくすることができる。

Claim (excerpt)：

測定対象に向けてレーザー光源からレーザー光を照射して該測定対象の性質または状態に基づき該レーザー光が変化するようになし、該レーザー光を光電気変換器で電気信号に変換するようにしたレーザー利用測定器において、上記レーザー光の測定対象からの反射レーザー光が上記レーザー光源に戻る反射戻り光を低減するため、周波数シフタとして動作する音響光学素子を異方ブラッグ回折を利用したものとし、上記レーザー光源からのレーザー光を該異方ブラッグ回折利用音響光学素子を介して測定対象に照射するレーザー光照射手段を設けたことを特徴とするレーザー利用測定器。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 鉄塔取付機器の振動検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-068830   Applicant：日本碍子株式会社
• 特開平4-248490