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J-GLOBAL ID：200903045925964270

帯状体の検査装置

Inventor： 松原 俊郎 ,  井上 雅基 ,  中森 幸雄
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社 ,  日本インターコネクションシステムズ株式会社
Agent (1)： 半田 昌男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991183575
Publication number (International publication number)：1993332949
Application date： Jun. 28, 1991
Publication date： Dec. 17, 1993
Summary：

【要約】【目的】 異物の侵入による誤検査を防止することができる帯状体の検査装置を提供する。【構成】 本装置は、供給リールと巻取リールとの間に設けられた自動検査部と、検査の際にTABテープ3を挟持する挟持装置40と、TABテープ3に圧縮エアを吹きつける圧縮エア装置47とを備えている。圧縮エア装置47はTABテープ3の各フレームが検査位置に搬送される際に、或いは搬送後に上下のクランプ41,44でクランプする前に、エアチューブ46を介して、TABテープ3の表面及び裏面に圧縮エアを吹きつける。これにより、TABテープ3に付着していた、塵等の異物を吹き飛ばす。

Claim (excerpt)：

所定数のフレーム毎に被検査物である帯状体の瑕疵の有無を検査する帯状体の検査装置において、前記帯状体の検査時に前記所定数のフレーム毎に前記帯状体を光透過性部材により挟持する挟持手段と、前記帯状体を前記光透過性部材で挟持する際に、前記帯状体と前記光透過性部材との間に侵入した異物を除去する除去手段と、を設けたことを特徴とする帯状体の検査装置。

IPC (2)：

G01N 21/89 ,  G01B 11/30