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J-GLOBAL ID:200903045928786411
電界分布測定装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
山川 政樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002181865
Publication number (International publication number):2004028636
Application date: Jun. 21, 2002
Publication date: Jan. 29, 2004
Summary:
【課題】空間に放射された電磁波を高い空間分解能でかつ短時間に計測する装置を提供する。【解決手段】光線を出射する光源と、電界に応じて光学的特性が変化する電気光学結晶と、光線の電気光学結晶への入射位置を変更する入射位置変更手段と、電気光学結晶に入射され、電界に応じた偏光変調を受けた光線が含む2つの独立な偏光成分を分離する偏光分離手段と、この偏光分離手段により分離された光の強度を電気信号に変換する光検出手段と、電気信号を処理し電界分布を出力する出力手段とを備えることを特徴とする。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
光線を出射する光源と、
電界に応じて光学的特性が変化する電気光学結晶と、
前記光線の前記電気光学結晶への入射位置を変更する入射位置変更手段と、
前記電気光学結晶に入射され、電界に応じた偏光変調を受けた光線に含まれる2つの独立な偏光成分を分離する偏光分離手段と、
この偏光分離手段により分離された偏光成分の強度変化を電気信号に変換する光検出手段と、
前記電気信号を処理し電界分布を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする電界分布測定装置。
IPC (1):
FI (2):
G01R29/08 D
, G01R29/08 F
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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特開平1-212081
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特開昭64-018071
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ミリ波イメージングシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-229132
Applicant:日本電信電話株式会社
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