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J-GLOBAL ID：200903045935620278

吸光度式分析計

Inventor： 竹内 英夫 ,  菅 章宏 ,  大原 寿樹
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Agent (1)： 小沢 信助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993070153
Publication number (International publication number)：1994281565
Application date： Mar. 29, 1993
Publication date： Oct. 07, 1994
Summary：

【要約】【目的】 清掃に多大な時間を必要とせず、且つ、最小限の洗浄液の量で測定セルの洗浄を行うことができる。【構成】 測定セルに入れられた被測定溶液を透過する光の強度を測定して被測定溶液の分析を行う吸光度式分析計において、透過光が通過する測定セルの内壁に洗浄液を噴射して洗浄する洗浄手段と、洗浄手段によって内壁を洗浄した後に、測定セルを基準水で満たす基準水供給手段と、基準水が満たされた測定セルを透過する透過光に基づいて測定セルの汚れを判断し、洗浄手段から噴射する洗浄液を制御する制御手段とを設けたことを特徴としている。

Claim (excerpt)：

測定セルに入れられた被測定溶液を透過する光の強度を測定して被測定溶液の分析を行う吸光度式分析計において、前記透過光が通過する測定セルの内壁を洗浄液を噴射して洗浄する洗浄手段と、この洗浄手段によって内壁を洗浄した後に、前記測定セルを基準水で満たす基準水供給手段と、前記基準水が満たされた測定セルを透過する透過光に基づいて測定セルの汚れを判断し、前記洗浄手段から噴射する洗浄液を制御する制御手段と、を設けたことを特徴とした吸光度式分析計。

IPC (2)：

G01N 21/15 ,  G01N 21/59

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭50-063756
  
• 特開昭61-136496