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J-GLOBAL ID:200903045949005339

X線CT装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小川 勝男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995002386
Publication number (International publication number):1996187239
Application date: Jan. 11, 1995
Publication date: Jul. 23, 1996
Summary:
【要約】【構成】コリメータ400のスリット410ごとに設けられたX線検出器500は、X線の入射によって電子および正孔を発生する半導体結晶510、および基板530を備える。半導体結晶510および基板530の一面がコリメータ側を向いて配置される。各X線検出器500の半導体結晶510は、隣接して位置する他のX線検出器500の基板530と対向している、半導体結晶510は、正電極511および負電極512を有する。基板530は、これらの電極に接続される各配線を有する。【効果】基板がもつX線遮蔽効果により1つの半導体結晶に入射されたX線が他の半導体結晶に入射されることがなく、クロストークが防止される。これは、測定ノイズの低減につながりX線検出器の測定精度が向上する。
Claim (excerpt):
X線発生装置と、X線発生装置から放出されたX線が通過する複数のスリットを有するコリメータと、前記スリットを通過するX線を検出するX線検出器とを備え、前記X線検出器が、電極を含みかつX線の入射によって電子および正孔を発生する半導体結晶と、前記電極に接続される配線が設けられ、前記半導体結晶と対向して設けられた基板とを有し、前記半導体結晶および前記基板の一面が前記コリメータ側を向いて前記各スリット毎に1つずつ前記X線検出器が配置され、前記各X線検出器の前記半導体結晶は、隣接して位置する他の前記X線検出器の前記基板と対向していることを特徴とするX線CT装置。
IPC (2):
A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 半導体検出器アレイ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-023144   Applicant:ジーイー横河メディカルシステム株式会社
  • 特開昭56-133671
  • 特開昭53-101989

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