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J-GLOBAL ID：200903045991774466

有限要素法による解析方法及びその装置

Inventor： 米田 弘
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 大塚 康徳 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996350375
Publication number (International publication number)：1998188042
Application date： Dec. 27, 1996
Publication date： Jul. 21, 1998
Summary：

【要約】【課題】 ベクトルポテンシャルを用いた節点要素有限要素法において、磁性体が存在する等のように材料定数が不連続な場合に、計算量や使用メモリを節約して精度よい解析ができる有限要素法による解析方法を提供することを目的とする。【解決手段】 解析対象を有限の要素に分割して解析する有限要素法による解析で、空間内に磁気コア31がある場合のように、分割された要素間に材料定数(例えば透磁率)が不連続に変る不連続面が有る場合に、前記材料定数の不連続面の位置に不連続面の法線方向に少なくとも1層の新たな要素35を追加して有限要素法による解析を行うことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

解析対象を有限の要素に分割して解析する有限要素法による解析方法であって、分割された要素間に材料定数が不連続に変る不連続面が有る場合に、前記材料定数の不連続面の位置に不連続面の法線方向に少なくとも1層の新たな要素を追加して解析を行うことを特徴とする有限要素法による解析方法。

IPC (4)：

G06T 17/20 ,  G01R 29/08 ,  G01R 33/10 ,  G06F 17/00

FI (4)：

G06F 15/60 612 J ,  G01R 29/08 Z ,  G01R 33/10 ,  G06F 15/20 D