Pat
J-GLOBAL ID:200903046043708924
距離測定装置
Inventor:
,
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
久保 幸雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999227148
Publication number (International publication number):2001051058
Application date: Aug. 11, 1999
Publication date: Feb. 23, 2001
Summary:
【要約】【課題】無駄な測距を無くして測定時間の短縮及び測定データ量の低減を図る。【解決手段】参照光を投光し、被測定物での反射光を受光することにより被測定物までの距離を測定する距離測定装置において、測定方向を走査しつつ測定を繰り返す走査手段と、走査が可能な範囲である測定領域内の各部分毎に、測定点に対する測定精度を変更する制御手段とを設ける。
Claim (excerpt):
参照光を投光し、被測定物での反射光を受光することにより被測定物までの距離を測定する距離測定装置であって、測定方向を走査しつつ測定を繰り返す走査手段と、走査が可能な範囲である測定領域内の各部分毎に、測定点に対する測定精度を変更する制御手段と、を有することを特徴とする距離測定装置。
IPC (4):
G01S 17/10
, G01B 11/00
, G01C 3/06
, G01S 7/48
FI (4):
G01S 17/10
, G01B 11/00 B
, G01C 3/06 Z
, G01S 7/48 Z
F-Term (60):
2F065AA02
, 2F065AA06
, 2F065DD06
, 2F065FF12
, 2F065FF32
, 2F065FF33
, 2F065GG04
, 2F065GG12
, 2F065HH04
, 2F065HH13
, 2F065JJ01
, 2F065JJ09
, 2F065JJ18
, 2F065KK03
, 2F065LL05
, 2F065LL12
, 2F065LL13
, 2F065LL26
, 2F065LL62
, 2F065MM16
, 2F065MM28
, 2F065PP22
, 2F065QQ01
, 2F065QQ03
, 2F065QQ23
, 2F065QQ36
, 2F065QQ42
, 2F065SS02
, 2F065SS13
, 2F112AD01
, 2F112BA05
, 2F112CA06
, 2F112CA12
, 2F112DA09
, 2F112DA15
, 2F112DA19
, 2F112DA25
, 2F112EA05
, 2F112FA07
, 2F112FA21
, 2F112FA36
, 5J084AA05
, 5J084AD01
, 5J084BA04
, 5J084BA11
, 5J084BA36
, 5J084BA50
, 5J084BB02
, 5J084BB11
, 5J084BB21
, 5J084BB28
, 5J084CA03
, 5J084CA23
, 5J084CA61
, 5J084CA65
, 5J084CA70
, 5J084DA01
, 5J084DA09
, 5J084EA04
, 5J084EA40
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