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J-GLOBAL ID：200903046088833312

ひずみ測定法

Inventor： 西元 敬二
Applicant, Patent owner： 西元 敬二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997347312
Publication number (International publication number)：1999166804
Application date： Dec. 03, 1997
Publication date： Jun. 22, 1999
Summary：

【要約】【目的】 抵抗線ひずみゲージをセンサーとするひずみゲージ測定において、ひずみゲージの抵抗線の抵抗値が構造物の伸縮を検出して変化し、温度の影響で変化したものをそれぞれの変化の原理を反映した方式で補正し、信頼度の高いひずみデータを得る。【構成】 ひずみゲージをホイートストン・ブリッジ回路の1辺へ接続する際、ひずみゲージの抵抗値に加わるリード線の抵抗値を補正し、アクティブゲージの抵抗値が温度変化の影響によって変化した抵抗値を、ダミーゲージの初期値を基準にして求めた抵抗変化率によりアクティブゲージの初期値を補正し、アクティブゲージの加重時の抵抗値を初期値で除し、その平方根から1を減算した結果をひずみとすることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

構造物に対しある大きさの荷重を加えてアクティブゲージの抵抗値を測定する際、一緒に測定したダミーゲージの抵抗値を同ゲージの初期荷重時の抵抗値で除した結果を、同じ温度にあるアクティブゲージの初期荷重時の抵抗値にかけてアクティブゲージの温度変化による抵抗値の変化分を補正する方法。

IPC (3)：

G01B 7/16 ,  G01L 1/00 ,  G01L 1/22

FI (3)：

G01B 7/18 C ,  G01L 1/00 K ,  G01L 1/22 B