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J-GLOBAL ID：200903046097262387

対応点探索方法、相互標定方法、3次元画像計測方法、対応点探索装置、相互標定装置、3次元画像計測装置、対応点探索プログラム及び対応点探索プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体

Inventor： 小野 徹 ,  大谷 憲雄
Applicant, Patent owner： 国立大学法人京都大学
Agent (1)： 特許業務法人原謙三国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005174118
Publication number (International publication number)：2006350553
Application date： Jun. 14, 2005
Publication date： Dec. 28, 2006
Summary：

【課題】 特殊なターゲットを用いることなく、土木分野においても好適に利用できる標定点探索を実現する。【解決手段】 重複撮影された複数の撮影画像間の標定点を探索する標定点探索装置5は、各撮影画像間におけるエピポーラ拘束条件を求めるために必要な、各撮影画像の相互標定要素を取得する相互標定要素取得処理部23と、各撮影画像の撮影画像データにおける色情報に基づいて、各撮影画像において目立つ対象物を示す画素領域を抽出する標定点候補抽出処理部21と、抽出した画素領域に含まれる画素の位置情報に基づき、抽出した画素領域を楕円により表現したときの当該楕円の楕円パラメータを算出する楕円パラメータ算出部22aと、取得した相互標定要素の概算値と、算出した楕円パラメータとに基づいて、各撮影画像において抽出された画素領域に対応関係があるか否かを判定する標定点探索処理部24とを備える。【選択図】 図2

Claim (excerpt)：

計測対象を互いに異なる方向から重複撮影することによって得られた複数の撮影画像間の対応点を探索する対応点探索方法において、 各撮影画像間におけるエピポーラ拘束条件を求めるために必要な、各撮影画像の相互標定要素の概算値を取得する取得処理と、 各撮影画像それぞれの撮影画像データにおける色情報に基づいて、各撮影画像において目立つ対象物を示す画素領域を抽出する抽出処理と、 抽出した画素領域に含まれる画素の位置情報に基づき、抽出した画素領域を楕円により表現したときの当該楕円の楕円パラメータを算出する楕円パラメータ算出処理と、 取得した相互標定要素の概算値と、算出した楕円パラメータとに基づいて、各撮影画像において抽出された画素領域に対応関係があるか否かを判定する判定処理とを含むことを特徴とする対応点探索方法。

IPC (4)：

G06T 1/00 ,  G01C 11/06 ,  G06T 7/00 ,  G01B 11/24

FI (5)：

G06T1/00 315 ,  G01C11/06 ,  G06T7/00 C ,  G06T7/00 200Z ,  G01B11/24 A

F-Term (24)：

2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065FF01 ,  2F065FF05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ42 ,  2F065UU05 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5L096AA09 ,  5L096CA05 ,  5L096CA24 ,  5L096FA09 ,  5L096FA71